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课程培训
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DFT可测试性设计培训课程
DFT可测试性设计培训课程
培训大纲 第一阶段
课程大纲：
1. VLSI test
2. DFT要点
3. DFT设计流程
4. DFT设计技巧
5. Fault model
6. ATPG
7. ATPG技巧
8. Fault simulation
9. Fault 要点
10. Fault 技巧
11. Fault 流程
12. Scan
13. 扫描技巧
14. 扫描要点
15. 扫描流程
16. JTAG
17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test
20. Memory 测试要点
21. Memory测试流程
22. Memory测试技巧
23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
25.BSD 基本单元和JTAG测试
第二阶段 SCAN synthesis
1.Scan概念及方法介绍
2.Scan实现流程及问题解决
3.Scan DRC violation讲解及解决方法
4.Scan技巧
第三阶段 ATPG
1.ATPG介绍
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解决方法
5.ATPG patten generation
6.测试压缩及方法
7.ATPG patten验证
8.ATPG技巧 第四阶段 JTAG/1500
1.JTAG方法
2.JTAG及其扩展应用
3.JTAG实现及验证
4.JTAG技巧 第五阶段 BIST/MBIST
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory类型介绍
3.BIST solution
4.MBIST算法
5.MBIST验证
6.BIST/MBIST 技巧
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